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晶體面角恒等定律如何定義顯微鏡檢測(cè)晶粒（之三）
對(duì)于晶體的面角，必須要使用專業(yè)的工具來(lái)進(jìn)行，
可以通過(guò)測(cè)角儀來(lái)進(jìn)行角度的測(cè)定，
接觸測(cè)角儀的最初，所使用的是有刻度的半圓規(guī)，
或者是能夠進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的，那種直臂形狀的，
進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候，需要注意，將半圓規(guī)的底邊，還
有其旋轉(zhuǎn)的臂進(jìn)行操作，將其和需要檢測(cè)的二晶面進(jìn)
行靠近，
這樣就可以在半圓規(guī)上面進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀取，即對(duì)二
晶夾角數(shù)據(jù)的讀取，測(cè)角儀的操作比較簡(jiǎn)單，而且方便，
但是其缺點(diǎn)是精度不夠，只能達(dá)到0.5度，那么這就
不適合使用在對(duì)細(xì)小晶體的測(cè)量。
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